Young's Modulus Apparatus - Hall Sensor Method
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제조사(브랜드) Lambdasys
판매사/수입사 유니나노텍(주) UniNanoTech Co., Ltd.
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34-00991-01 LEMI-12 Young's Modulus Apparatus - Hall Sensor Method resolution: 0.01 mm; magnification: 20 X set 견적가
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LEMI-12, Young's Modulus Apparatus - Hall Sensor Method

Features


Hall micro-displacement sensing Simple structure and stable performance High accuracy (error <3%) Ideal demonstration system Introduction When rigid materials are subject to particular stress or forces, deformation (compressed, twisted, stretched, etc) may occur. For many materials, when suffered from force or stress, the resisting or restoring force that tends to return the material to its original shape is proportional to the deformation. Young's Modulus, E, is a constant that describes the material's mechanical property of stiffness and is expressed as the ratio of stress to strain for a material experiencing tensile or compressive stress.

This apparatus is designed to study the deformation characteristics of thin metal sheet samples under load. Deformation is created by applying a small force F on the sheet. A micro-displacement sensor based on Hall effect is used to measure the deformation, where the output voltage is proportional to the amount of displacement.

Using this apparatus, the following experiments can be conducted:

1. Understand the principle, structure, properties and applications of a Hall displacement sensor
2. Measure the Young's modulus of a copper sample
3. Calibrate a Hall displacement sensor
4. Measure the Young's modulus of a malleable iron sample

Specifications

Reading Microscope Range: 8 mm; resolution: 0.01 mm; magnification: 20 X
Weights 10.0 g and 20.0 g
Digital Multimeter 3-1/2 digit; range: 0 ~ 2000 mV
Samples Copper and malleable cast-iron sheets
Relative Uncertainty of Measurement < 3%

Part List Description Qty

Host Machine 1
Stand Rack 1
Reading Microscope 1
Hall Sensor 1
Connection Wire 1
Weights 8 pcs at 10 g, 2 pcs at 20 g
Manual 1
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